T/CSTM 00985—2023 低损耗介质板的复介电常数测试 分离式圆柱谐振腔法

标准号
T/CSTM 00985—2023
中图分类号
L 30
ICS分类号
31.180
发布单位
电子科技大学，工业和信息化电子第五研究所，中国测试技术研究院，成都恩驰微波科技有限公司，中国科学院深圳先进技术研究院，山东国瓷功能材料股份有限公司。
状态
现行
发布日期
2023年4月7日
实施日期
2023年7月7日
摘要
本文件规定了介质平板材料在微波和毫米波频段的介电常数和介质损耗角正切的分离式圆柱谐振腔法，包括原理、环境条件、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、注意事项和试验报告等内容。
应用范围
本文件适用于测试片状材料在微波和毫米波频段的介电常数和介质损耗角正切，电场平行于平板表面。 频率测试范围：f=2 GHz~100 GHz； 介电常数测试范围：〖ε'〗_r=2.0~100； 损耗角正切测试范围：tanδ=1.0×10^(-5)~1.0×10^(-2)； 温度测试范围：T=-65 ℃~125 ℃。
TCSTM 00985-2023《低损耗介质板的复介电常数测试 分离式圆柱谐振腔法》.pdf
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